Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов.

Название: Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
Авторы: Д. Брандон, У. Каплан.
Издательство: Техносфера
Год издания: 2004
Страниц: 384
Язык: Русский
Качество: хорошее
Формат: DjVu
Размер: 12,6 Mb