Афонский А.А., Дьяконов В.П. - Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике

Книга по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих в их разработке и производстве фирм: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S и др. Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др. Является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира.
Для инженеров, научных работников, аспирантов, преподавателей и студентов вузов и университетов технического и классического типов.

Название: Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике
Автор: Афонский А.А., Дьяконов В.П.
Жанр: Учебное пособие
Издательство: ДМК Пресс
Год: 2011
Страниц: 688
Язык: Русский
Формат: pdf
Размер: 45,65 Mb